局部放電檢測(cè)儀的技術(shù)性能和操作事項(xiàng)
局部放電檢測(cè)儀采用先進(jìn)的抗干擾組件和*的門(mén)顯示電路,抗干擾能力強(qiáng),并具有四種高頻橢圓掃描,適用于高壓產(chǎn)品的型式、出廠(chǎng)試驗(yàn),新產(chǎn)品研制試驗(yàn),電機(jī)、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開(kāi)關(guān)及其它高壓電器局部放電的定量測(cè)試??晒┲圃鞆S(chǎng)、科研部門(mén)、電力部門(mén)現(xiàn)場(chǎng)使用。
技術(shù)參數(shù):
1、適用范圍:采用非侵入式檢測(cè)方式,對(duì)高壓電氣設(shè)備的局部放電缺陷進(jìn)行檢測(cè)及定位。
2、傳感器配置
標(biāo)配:超聲波傳感器(UA)、地電波傳感器(TEV)
選配:變壓器傳感器、GIS特高頻傳感器、高頻互感器,也可根據(jù)用戶(hù)要求定制。
3、檢測(cè)原理:超聲波法(UA)、地電波法(TEV)及特高頻法(UHF)。
4、檢測(cè)頻帶:超聲波: 40~200KHz、地電波: 3~100MHz、特高頻: 300~2000MHz
5、測(cè)量范圍:
超聲波: -90~80dB
地電波: -80~10dBm
特高頻: -80~10dBm
6、靈敏度:小10pC(具體取決于傳感器與放電源之間的距離)。
7、傳感器:
① 超聲波傳感器:20~200(kHz);
② 地電波(TEV):3 ~ 100MHz。
③ 特高頻傳感器:300~2000(MHz),具備定向接收特性;
8、具有內(nèi)置超聲傳感器,地電波、超聲波二合一傳感器,可選變壓器傳感器、GIS傳感器、高頻互感器等部件;
9、軟件功能:
① 連續(xù)檢測(cè)特高頻、地電波及超聲波信號(hào),判斷是否存在局部放電;
② 實(shí)時(shí)顯示被測(cè)信號(hào)的變化趨勢(shì)、可對(duì)局部放電信號(hào)的發(fā)展作出較為直觀的判斷;
③ 具備數(shù)據(jù)的現(xiàn)場(chǎng)存儲(chǔ)功能。
10、儀器特征:
① 屏幕顯示:高對(duì)比度 3.5 英寸TFT彩屏。
② 數(shù)據(jù)存儲(chǔ):可保存 1000 組測(cè)試數(shù)據(jù)。
③ 工作電源:內(nèi)置 8.4V 鋰電池,可連續(xù)工作 8 小時(shí)。
④ 電源:輸入100-240VAC,輸出8.4V/3A,充電時(shí)間3~4小時(shí)。
⑤ 外形尺寸:230 * 120 * 55(mm)。
⑥ 儀器重量:0.7kg。
⑦ 使用溫度:-25℃~45℃。
⑧ 存儲(chǔ)溫度:-35℃~60℃。
11、成套配置:主機(jī)、傳感器、交流適配器、連接電纜及運(yùn)輸箱。
使用注意事項(xiàng):
1.局部放電檢測(cè)儀在試驗(yàn)開(kāi)始加壓以前,試驗(yàn)人員必須詳細(xì)而全面地檢查一遍線(xiàn)路,以免線(xiàn)路接錯(cuò)。測(cè)試儀器處的接地線(xiàn)是否與接地體牢固連接,若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)掐頭去尾線(xiàn)被腳踢斷,這將可能引起人身和設(shè)備事故。
2.對(duì)于連接線(xiàn)應(yīng)避免將暴露在外,防止電暈放電,尤其對(duì)于電壓等級(jí)較高的局部放電試驗(yàn),必要時(shí)要加粗高壓連接線(xiàn)及加裝防電暈罩,減小因場(chǎng)強(qiáng)過(guò)高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3.一般情況下,在試驗(yàn)過(guò)程中,被試品在耐壓、預(yù)升壓時(shí)局部放電量都比正常值大很多,此時(shí)儀器的儀表必然會(huì)超出滿(mǎn)刻度。為防止儀器損壞,應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔,以不超出滿(mǎn)刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測(cè)量電壓時(shí),再將增益粗調(diào)開(kāi)關(guān)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔,以便記錄測(cè)量值。
4.校正電量發(fā)生器校正完畢后,一定要從高壓端脫離,并關(guān)閉電源開(kāi)關(guān),且儀器的增益細(xì)調(diào)旋鈕不可再調(diào)。因增益粗調(diào)開(kāi)關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍,且檔位有指示,故升壓后根據(jù)放電量大小,可選擇合適量程。逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí),每降一檔量程擴(kuò)大十倍;反之,順時(shí)針時(shí),量程縮小十倍。
5.局部放電測(cè)試儀試驗(yàn)完畢后,應(yīng)對(duì)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正,驗(yàn)證是否與試驗(yàn)前所校正出的刻度系數(shù)相等,以免測(cè)試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗(yàn)過(guò)程中發(fā)生故障而使測(cè)試結(jié)果不對(duì)。
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